Optinen koherenssitomografia-mikrorakenneanalyysi
Optinen koherenssitomografia-mikrorakenneanalyysi on interferometrinen menetelmä mikroskooppisten kerrosten koskettomaan syvyysprofilointiin. Sitä käytetään ihonalaisten delaminaatioiden havaitsemiseen ja parantaa laadunvalvontaa.
Fysikaalis-kemiallinen vaikutusmekanismi
Optinen koherenssitomografia-mikrorakenneanalyysi hyödyntää interferometrisen diffraktion periaatetta. Valo suunnataan pinnalle ja heijastunutta aaltorintamaa verrataan referenssiaaltoon. Kahden aallon välinen vaihe-ero antaa tietoa pinnan ja sisäisten kerrosten syvyysprofiilista.
Metallurginen merkitys ja hitsausriskit
Tämä analyysi on erityisen tärkeä hitsattaessa monimutkaisia materiaaleja kuten terästä tai alumiinia. Se havaitsee delaminaatiot, halkeamat ja muut pinnanalaiset viat, jotka eivät ole näkyvissä tavanomaisella mikroskoopilla. Tämä parantaa hitsaussauman turvallisuutta ja käyttöikää.
Työpaikkakäytäntö ja toimintaohjeet
Tarkan analyysin saamiseksi materiaali tulee analysoida huoneenlämpötilassa. Valonlähteen on oltava vakaa tarkkojen tulosten saamiseksi. Resoluutio on tyypillisesti 1-2 mikrometriä, mikä riittää hienojen rakenteiden ja delaminaatioiden havaitsemiseen.