Optische coherentietomografie-micostructuuranalyse
Optische coherentietomografie-micostructuuranalyse is een interferometrische methode voor contactloze diepteprofilering van microscopische lagen. Het dient voor het detecteren van subcutane delaminaties en verbetert de kwaliteitscontrole.
Fysisch-chemisch werkingsmechanisme
Optische coherentietomografie-microstructuuranalyse maakt gebruik van het principe van interferometrische diffractie. Licht wordt op een oppervlak gericht en de teruggekaatste golffront wordt vergeleken met een referentiegolf. Het faseverschil tussen de twee golven geeft informatie over het diepteprofiel van het oppervlak en interne lagen.
Metallurgische relevantie & risico's bij het lassen
Deze analyse is vooral belangrijk voor het lassen van complexe materialen zoals staal of aluminium. Het detecteert delaminaties, scheuren en andere subcutane defecten die niet zichtbaar zijn met conventionele microscopie. Dit verbetert de veiligheid en levensduur van de lasnaad.
Werkplaatspraktijk & instructies
Voor een nauwkeurige analyse moet het materiaal bij kamertemperatuur worden geanalyseerd. De lichtbron moet stabiel zijn om precieze resultaten te leveren. De resolutie is typisch 1-2 micrometer, wat voldoende is voor het detecteren van fijne structuren en delaminaties.