Time-of-Flight Diffraction yöntemi
Time-of-Flight Diffraction yöntemi, kaynak dikişi numunelerindeki iç kusurların dikey boyutunu hassas belirlemek için bir ultrasonik tandem tekniğidir. Çatlak uçlarından kırınım yapan dalgaların uçuş zamanı farklarını ölçer.
Fiziko-kimyasal etki mekanizması
Time-of-Flight-Diffraction (ToF-D), bir vericiden gönderilen ve bir alıcı tarafından yakalanan ultrasonik dalgaları kullanır. Dalgalar çatlak uçlarında kırınıma uğrar ve bu da farklı yayılma sürelerine yol açar. Bu farklar ölçülür ve işlenerek iç hataların derinliği ve boyutu belirlenir.
Metalurjik önemi ve kaynak sırasındaki riskler
ToF-D, yoğun çatlaklar veya iç hatalar içeren kaynak dikişi numunelerinin incelenmesinde özellikle yararlıdır çünkü yüksek çözünürlük ve hassasiyet sağlar. Ölçüm verilerinin yanlış yorumlanması, yanlış teşhis edilmiş kusurlara yol açabilir ve bu da bileşenin güvenliği için risk oluşturur.
Atölye pratiği ve uygulama talimatları
ToF-D yöntemini doğru kullanmak için şu adımlara dikkat edilmelidir:
1. Cihazı kurun: Ultrasonik verici ve alıcının doğru hizalandığından emin olun.
2. Numuneyi hazırlayın: Numuneler temiz ve yüzey hatalarından arındırılmış olmalıdır, böylece doğru sonuçlar elde edilir.
3. Ölçümü yapın: Numuneye ultrasonik dalgalar gönderin ve çatlak uçlarında kırınıma uğrayan dalgaların yayılma sürelerini kaydedin.
4. Verileri analiz edin: Ölçüm verilerini işlemek ve iç hataların derinliğini ve boyutunu belirlemek için özel yazılım kullanın.