Excitación Lock-In termográfica
La excitación Lock-In termográfica es una técnica termográfica activa con excitación térmica modulada para la detección precisa de pequeños defectos de material. Minimiza las variaciones del coeficiente de emisividad superficial mediante la evaluación desfasada.
Mecanismo físico-químico de acción
La excitación por lock-in termográfico utiliza una excitación térmica modulada para detectar defectos en el material. La excitación se genera en una banda de frecuencia conocida y se mide la respuesta del material a esta excitación. Mediante una evaluación con desplazamiento de fase, se minimiza la influencia de las variaciones de emisividad superficial, lo que permite una detección más precisa.
Relevancia metalúrgica y riesgos en la soldadura
Esta técnica es especialmente útil para detectar pequeños defectos y deformaciones en las zonas de soldadura. Parámetros de excitación incorrectos o una evaluación imprecisa pueden dar lugar a resultados ausentes o falsos, lo que puede afectar al aseguramiento de la calidad.
Práctica en el taller e instrucciones de trabajo
Para emplear con éxito la excitación por lock-in termográfico, se deben seguir los siguientes pasos:
1. Ajustes de excitación: La frecuencia y amplitud de excitación deben ajustarse con precisión para generar el comportamiento deseado del material.
2. Evaluación: La evaluación con desplazamiento de fase debe realizarse correctamente para compensar las variaciones de emisividad superficial.
3. Calibración: Es necesaria una calibración regular de los equipos de medición para garantizar la precisión de los resultados.