गैर-विनाशकारी इंटरफेस विश्लेषण के लिए अकॉस्टिक माइक्रोस्कोपी

भौतिक-रासायनिक क्रियाविधि

अकॉस्टिक माइक्रोस्कोपी उच्च-आवृत्ति अल्ट्रासाउंड तरंगों का उपयोग करती है जो नमूने को रैस्टर प्रकार से स्कैन करती हैं। ध्वनि किरणें इंटरफेस पर परावर्तित होती हैं और डिटेक्टर द्वारा रिकॉर्ड की जाती हैं। ये डेटा छवियों में परिवर्तित होते हैं जो नमूने की आंतरिक संरचना दिखाते हैं।

धातुकर्मीय प्रासंगिकता और वेल्डिंग में जोखिम

यह तकनीक वेल्ड सीम की गुणवत्ता और अखंडता के विश्लेषण के लिए विशेष रूप से उपयोगी है। यह नमूने को नुकसान पहुंचाए बिना डेलैमिनेशन, छिद्र और अन्य सतह दोषों को दृश्यमान बना सकती है। छवियों की गलत व्याख्या से दोष छूट सकते हैं, जिससे वर्कपीस की सुरक्षा के लिए जोखिम होता है।

वर्कशॉप अभ्यास और कार्रवाई निर्देश

सटीक विश्लेषण करने के लिए, नमूने को सही ढंग से तैयार किया जाना चाहिए। इसमें सतह की स्थिति को हटाना और स्कैनिंग के दौरान स्थिति को बनाए रखना शामिल है। आवृत्ति और स्कैन दर की सेटिंग्स सामग्री और अनुप्रयोग के अनुसार समायोजित की जानी चाहिए। विश्वसनीय परिणाम सुनिश्चित करने के लिए उपकरण का कैलिब्रेशन आवश्यक है।