पैसिवेशन परत मोटाई माप

भौतिक-रासायनिक क्रियाविधि

पैसिवेशन-परत की मोटाई मापना स्टील पर क्रोमियम ऑक्साइड परत की मोटाई मापता है। यह परत इलेक्ट्रोकेमिकल कमी से बनती है या XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) से विश्लेषित की जाती है। यह धातु को जंग से बचाती है, एक संक्षारण-प्रतिरोधी सुरक्षा कवच बनाकर।

धातुकर्मीय प्रासंगिकता और वेल्डिंग में जोखिम

बहुत पतली क्रोमियम ऑक्साइड परत संक्षारण प्रतिरोध को कम कर सकती है और सामग्री की जल्दी विफलता का कारण बनती है। बहुत मोटी परत वेल्डिंग व्यवहार को प्रभावित कर सकती है और तनाव या दरारें पैदा कर सकती है। इसलिए, वेल्ड सीम की गुणवत्ता के लिए सटीक माप निर्णायक है।

कार्यशाला अभ्यास और कार्रवाई निर्देश

स्टील पर क्रोमियम ऑक्साइड परत मापने के लिए एक विशेष पैसिवेशन-परत मोटाई मीटर का उपयोग करें। माप वेल्डिंग के बाद और संक्षारण-रोधी प्रक्रियाओं के उपयोग से पहले किया जाना चाहिए। प्रभावी पैसिवेशन के लिए सामान्य मोटाई 10-20 nm होती है। गलत माप या पैसिवेशन की कमी के मामले में, फिर से वेल्डिंग आवश्यक है।