위상 배열 그룹 프로브 탐촉자

물리화학적 작용 메커니즘

위상 배열 그룹 프로브 탐촉자는 서로 독립적으로 활성화될 수 있는 일련의 진동자 요소로 구성된다. 이 요소들에서 음파 펄스의 시간 지연을 통해 집속된 빔을 생성할 수 있으며, 이 빔은 다양한 방향과 각도로 움직일 수 있다.

야금학적 관련성 및 용접 시 위험

이 기술은 딥 그루브 용접 비드나 곡률이 심한 용접 형상 등 복잡한 용접 형상을 매우 정밀하게 스캔할 수 있게 한다. 기존 탐촉자로는 보이지 않는 미세 결함과 균열도 검출할 수 있다. 그러나 잘못된 사용이나 잘못된 캘리브레이션은 부정확한 결과를 초래할 수 있고, 이는 다시 품질 보증 오류로 이어진다.

작업장 실무 및 조치 지침

위상 배열 그룹 프로브 탐촉자를 효과적으로 사용하려면 진동자 요소를 올바르게 캘리브레이션하고 동기화해야 한다. 검사는 방해를 최소화하기 위해 조용한 환경에서 수행해야 한다. 작업자가 탐촉자의 특정 설정과 파라미터를 숙지하여 최적의 결과를 얻는 것이 중요하다.