와전류법에 의한 층 두께 측정

물리화학적 작용 메커니즘

와전류법은 금속의 유도 특성을 이용한다. 전기장이 층에 와전류를 생성하고, 이는 다시 프로브의 임피던스 변화를 유발한다. 이 변화는 신호음으로 해석되며 표면까지의 거리와 상관관계가 있다.

용접의 야금학적 관련성 및 위험

이 측정은 이형층이나 보호층과 같은 층의 제어에 특히 중요하다. 잘못된 설정은 부정확한 측정을 초래하여 재료 선택 및 처리에 대한 오해를 일으킬 수 있다.

현장 실무 및 조치 지침

프로브를 표면과 평행하게 사용하고 천천히 이동한다. 디스플레이는 거리를 밀리미터로 표시한다. 먼지나 오염이 측정을 방해할 수 있으므로 깨끗한 표면을 유지한다.