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초음파 위상 배열 섹터 스캔

초음파 위상 배열 섹터 스캔은 개별 결정을 시간차로 구동하여 음속을 각도 범위에 걸쳐 조향하는 정밀 검사 방법이다. 2차원 단면 이미지를 생성하고 병 또는 균열 검출을 향상시킨다.

물리화학적 작용 메커니즘

위상 배열 섹터 스캔은 여러 초음파 결정을 시간차를 두고 활성화합니다. 이로 인해 음파 빔이 원하는 각도 범위에서 제어 가능하며 검사 체적의 특정 영역에 정밀하게 조준할 수 있습니다. 구동의 시간차는 위상 차이를 만들어 집속된 음파를 형성합니다.

야금학적 관련성 및 용접 위험

이 방법은 복잡한 부품의 플라스나 균열을 정밀하게 검출하는 데 특히 유용합니다. 초음파 검사의 감도와 분해능을 높여 더 작은 결함을 더 잘 인식할 수 있게 합니다. 그러나 부정확한 위상 조정이나 잘못된 구동은 부정확한 결과를 초래할 수 있어 검사에 대한 신뢰를 손상시킬 수 있습니다.

현장 실무 및 조치 지침

초음파 위상 배열 섹터 스캔을 수행하려면 다음 단계를 준수해야 합니다:

1. 장비 설정: 위상 배열 초음파 장비가 올바르게 교정되고 설정되었는지 확인하십시오.

2. 결정 위치 지정: 검사할 재료 표면에 초음파 결정을 위치시키십시오.

3. 구동 프로그래밍: 원하는 각도 범위에 도달하도록 결정의 시간차 구동을 프로그래밍하십시오.

4. 단면 이미지 분석: 생성된 2차원 단면 이미지를 플라스나 균열에 대해 분석하고 결과를 기록하십시오.

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