Optinė koherentinė tomografija – mikrostruktūros analizė
Optinė koherentinė tomografija – mikrostruktūros analizė yra interferometrinis metodas, skirtas bekontakčiam mikroskopinių sluoksnių gylio profiliavimui. Jis naudojamas po oda esančių atsisluoksniavimų nustatymui ir gerina kokybės kontrolę.
Fizikinis-cheminis veikimo mechanizmas
Optinė koherentinė tomografija mikrostruktūros analizė naudoja interferencinės difrakcijos principą. Šviesa nukreipiama į paviršių, o atspindėtas bangos frontas lyginamas su etalonine banga. Fazės skirtumas tarp abiejų bangų suteikia informaciją apie paviršiaus ir vidinių sluoksnių gylio profilį.
Metalurginė reikšmė ir rizika suvirinant
Ši analizė ypač svarbi suvirinant sudėtingas medžiagas, tokias kaip plienas ar aliuminis. Ji aptinka atsisluoksniavimus, įtrūkimus ir kitus po paviršiumi esančius defektus, kurių neįmanoma pamatyti įprastine mikroskopija. Tai pagerina suvirinimo siūlės saugumą ir ilgaamžiškumą.
Dirbtuvių praktika ir veiksmų instrukcijos
Norint gauti tikslią analizę, medžiaga turi būti analizuojama kambario temperatūroje. Šviesos šaltinis turi būti stabilus, kad būtų gauti tikslūs rezultatai. Skiriamoji geba paprastai yra 1-2 mikrometrų, ko pakanka smulkioms struktūroms ir atsisluoksniavimams aptikti.