Optisk koherenstomografi-mikrostrukturanalyse
Optisk koherenstomografi-mikrostrukturanalyse er en interferometrisk metode for berøringsfri dybdeprofilering av mikroskopiske sjikt. Den brukes til å oppdage subkutane delamineringer og forbedrer kvalitetskontrollen.
Fysikalsk-kjemisk virkningsmekanisme
Optisk koherenstomografi-mikrostrukturanalyse bruker prinsippet om interferometrisk diffraksjon. Lys rettes mot en overflate, og bølgefronten som reflekteres, sammenlignes med en referansebølge. Faseforskjellen mellom de to bølgene gir informasjon om dybdeprofileringen av overflaten og indre lag.
Metallurgisk relevans og risiko ved sveising
Denne analysen er spesielt viktig for sveising av komplekse materialer som stål eller aluminium. Den oppdager delamineringer, sprekker og andre subkutane defekter som ikke er synlige med konvensjonell mikroskopi. Dette forbedrer sikkerheten og levetiden til sveisen.
Verkstedpraksis og handlingsinstruksjoner
For å få en nøyaktig analyse bør materialet analyseres ved romtemperatur. Lyskilden må være stabil for å gi presise resultater. Oppløsningen er typisk 1-2 mikrometer, noe som er tilstrekkelig for å oppdage fine strukturer og delamineringer.