Passiverings-sjikttykkelsesmåling
Passiverings-sjikttykkelsesmåling bestemmer tykkelsen og kvaliteten på kromoksidsjiktet på stål ved hjelp av elektrokjemisk reduksjon eller XPS. Den kontrollerer om en korrosjonsbestandig barriere er dannet.
Fysisk-kjemisk virkningsmekanisme
Passiveringssjikttykkelsesmåling måler tykkelsen av kromoksidsjiktet på stål. Dette sjiktet dannes ved en elektrokjemisk reduksjon eller analyseres ved hjelp av XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Det beskytter metallet mot korrosjon ved å danne en korrosjonsbestandig beskyttelsesskjerm.
Metallurgisk relevans og risiko ved sveising
Et for tynt kromoksidsjikt kan svekke korrosjonsbestandigheten og føre til tidligere svikt i materialet. Et for tykt sjikt kan påvirke sveiseoppførselen og føre til spenninger eller sprekker. Derfor er nøyaktig måling avgjørende for kvaliteten på sveisesømmen.
Verkstedpraksis og handlingsinstruksjoner
Bruk et spesielt passiveringssjikttykkelsesmåleapparat for å måle kromoksidsjiktet på stålet. Målingen bør utføres etter sveising og før påføring av korrosjonsbekjempende prosedyrer. En typisk tykkelse for effektiv passivering er 10-20 nm. Ved unøyaktige målinger eller manglende passivering er ny sveising nødvendig.