Optična koherenčna tomografija za analizo mikrostrukture
Optična koherenčna tomografija za analizo mikrostrukture je interferometrična metoda za brezdotično globinsko profiliranje mikroskopskih plasti. Služi za odkrivanje podpovršinskih delaminacij in izboljšuje kontrolo kakovosti.
Fizikalno-kemijski mehanizem delovanja
Analiza mikrostrukture z optično koherentno tomografijo uporablja princip interferometričnega uklona. Svetloba je usmerjena na površino, odbita valovna fronta pa se primerja z referenčnim valom. Fazna razlika med obema valovoma daje informacije o globinskem profilu površine in notranjih plasti.
Metalurška ustreznost in tveganja pri varjenju
Ta analiza je še posebej pomembna pri varjenju kompleksnih materialov, kot sta jeklo ali aluminij. Prepozna delaminacije, razpoke in druge subkutane napake, ki niso vidne s konvencionalno mikroskopijo. To izboljša varnost in življenjsko dobo varnega šiva.
Delavniška praksa in navodila za ukrepanje
Za natančno analizo je treba material analizirati pri sobni temperaturi. Vir svetlobe mora biti stabilen, da daje natančne rezultate. Ločljivost je običajno 1-2 mikrometrov, kar zadostuje za prepoznavanje finih struktur in delaminacij.