Optisk koherenstomografi mikrostrukturanalys
Optisk koherenstomografi mikrostrukturanalys är en interferometrisk metod för kontaktlös djupprofilering av mikroskopiska skikt. Den används för att upptäcka subkutana delamineringar och förbättrar kvalitetskontrollen.
Fysikalisk-kemisk verkningsmekanism
Optisk koherenstomografi-mikrostrukturanalys använder principen av interferometrisk diffraktion. Ljus riktas mot en yta och den reflekterade vågfronten jämförs med en referensvåg. Fasskillnaden mellan de två vågorna ger information om djupprofileringen av ytan och inre lager.
Metallurgisk relevans & risker vid svetsning
Denna analys är särskilt viktig för svetsning av komplexa material som stål eller aluminium. Den upptäcker delaminering, sprickor och andra subkutana defekter som inte syns med konventionell mikroskopi. Detta förbättrar säkerheten och livslängden på svetsfogen.
Verkstadspraxis & handlingsanvisningar
För att få en noggrann analys bör materialet analyseras i rumstemperatur. Ljuskällan måste vara stabil för att ge precisa resultat. Upplösningen är typiskt 1-2 mikrometer, vilket är tillräckligt för att detektera fina strukturer och delaminering.