Kiểm tra chụp ảnh phóng xạ với lưới chắn tán xạ
Kiểm tra X-quang với lưới chắn tia tán xạ: Sử dụng lưới chì hoặc wolfram dạng lá để giảm tia tán xạ Compton và cải thiện độ tương phản hình ảnh cho các chi tiết kim loại thành dày.
Cơ chế tác động lý hóa
Lưới chắn tia tán xạ bao gồm các lớp mỏng song song bằng vật liệu như chì hoặc wolfram. Những lưới này hấp thụ tia tán xạ Compton, vốn sinh ra trong quá trình kiểm tra X-quang và có thể làm suy yếu độ tương phản hình ảnh. Sự hấp thụ xảy ra nhờ mật độ cao và khả năng hấp thụ electron mạnh của những vật liệu này.
Tầm quan trọng luyện kim & rủi ro khi hàn
Đối với các chi tiết kim loại thành dày, tia tán xạ Compton có thể mạnh, dẫn đến hình ảnh mờ hơn. Điều này gây khó khăn cho việc phát hiện lỗ hổng hoặc các khuyết tật khác. Nhờ sử dụng lưới chắn tia tán xạ, độ tương phản hình ảnh được cải thiện, giúp phát hiện tốt hơn các khuyết tật nhỏ và mịn. Nếu không có lưới, có thể dẫn đến sai sót trong kiểm tra và bỏ sót các vấn đề tiềm ẩn trong chi tiết.
Thực hành xưởng & hướng dẫn thao tác
Sử dụng lưới chắn tia tán xạ bằng chì hoặc wolfram có độ dày tối thiểu 0,5 mm. Đặt lưới giữa vật thể kiểm tra và đầu dò. Đảm bảo lưới được bố trí song song với hướng chùm tia. Điều này giảm thiểu tia tán xạ và cải thiện chất lượng hình ảnh. Đối với các chi tiết có vật liệu khác nhau hoặc độ dày thành khác nhau, có thể cần sử dụng nhiều lưới nối tiếp.