Phân tích thermography xung
Phân tích thermography xung là một phương pháp NDT, trong đó một xung nhiệt ngắn được đặt lên bề mặt và hành vi làm nguội được phân tích để phát hiện các khuyết tật dưới bề mặt. Nó cho phép đo chính xác cấu trúc và biến dạng vật liệu.
Cơ chế tác động vật lý - hóa học
Một xung nhiệt ngắn lên bề mặt gây ra sự tăng nhiệt độ nhanh chóng. Vật liệu phản ứng bằng cách nguội đi và giải phóng năng lượng nhiệt. Quá trình này được giám sát bằng cảm biến hồng ngoại.
Liên quan luyện kim & Rủi ro khi hàn
Phân tích hành vi làm nguội cung cấp thông tin về cấu trúc vật liệu, biến dạng và các khuyết tật có thể như vết nứt hoặc sự khác biệt về độ cứng. Diễn giải sai có thể dẫn đến kết quả sai, ảnh hưởng đến đảm bảo chất lượng.
Thực hành xưởng & Hướng dẫn hành động
Sử dụng một máy thermography xung với độ phân giải cao và cảm biến được hiệu chuẩn chính xác. Để xung nhiệt rơi lên bề mặt trong 10-20 ms và quan sát hành vi làm nguội trong 5-10 giây. Phân tích dữ liệu với các công cụ phần mềm chuyên dụng để định vị và phân loại khuyết tật.