Xuyên chiếu vi tiêu điểm
Xuyên chiếu vi tiêu điểm sử dụng nguồn tia X rất nhỏ để hiển thị chi tiết mịn. Nó cho phép phân tích chính xác điện tử và khuyết tật đúc mà không bị mờ viền.
Cơ chế tác động lý-hóa
Kiểm tra bằng tia X vi tiêu điểm sử dụng nguồn tia X có kích thước tiêu điểm cực nhỏ. Nguồn nhỏ này cho phép phóng đại hình học trong khi độ mờ viền vẫn tối thiểu. Diện tích màn hình nhỏ và năng lượng bức xạ cao cho phép độ phân giải tuyệt vời.
Liên quan luyện kim & rủi ro khi hàn
Trong phân tích mối hàn, kiểm tra bằng tia X vi tiêu điểm có thể được sử dụng để phát hiện các khuyết tật nhỏ và vi cấu trúc. Nó giúp kiểm tra chất lượng và độ bền mối hàn. Tuy nhiên, tiêu điểm quá lớn hoặc năng lượng không đủ có thể dẫn đến hình ảnh kém, gây khó khăn cho phân tích.
Thực hành xưởng & hướng dẫn thao tác
Để kiểm tra bằng tia X vi tiêu điểm thành công, điều quan trọng là sử dụng nguồn tia X có kích thước tiêu điểm nhỏ hơn 10 µm. Năng lượng nên nằm trong khoảng từ 50 đến 200 kV, tùy thuộc vào vật liệu và độ phân giải mong muốn. Đảm bảo rằng diện tích màn hình đủ lớn để hấp thụ bức xạ hiệu quả, để đảm bảo chất lượng hình ảnh và an toàn.