Giới hạn độ mờ hình học phóng xạ

Giới hạn độ mờ hình học phóng xạ là khoảng cách tối thiểu giữa tiêu điểm và vật thể để tránh độ mờ viền trên hình ảnh. Điều này đảm bảo kỹ thuật đo rõ ràng.

Cơ chế tác động lý-hóa

Độ mờ hình học phát sinh do chiều rộng của chùm tia xuyên qua vật thể. Tiêu điểm và vật thể càng gần nhau, chùm tia càng rộng và hình ảnh càng kém chính xác.

Liên quan luyện kim & rủi ro khi hàn

Khoảng cách quá nhỏ dẫn đến viền mờ trên hình ảnh, gây khó khăn cho việc đánh giá chính xác các khuyết tật như lỗ khí hoặc vết nứt. Điều này có thể dẫn đến quyết định sai trong quá trình kiểm soát chất lượng.

Thực hành xưởng & hướng dẫn hành động

Đảm bảo khoảng cách giữa nguồn tia X (tiêu điểm) và vật thể hàn ít nhất là 50 cm. Điều này giảm thiểu độ mờ hình học trên hình ảnh và đảm bảo kỹ thuật đo rõ ràng.

MetallurgieSchweißtechnik