Đánh giá mẫu nhiễu xạ ToFD
Đánh giá mẫu nhiễu xạ ToFD là một phương pháp để định vị chính xác đỉnh nứt trong mẫu mối hàn bằng cách phân tích tín hiệu nhiễu xạ thời gian truyền trong ảnh siêu âm.
Cơ chế tác động hóa lý
Phân tích mẫu nhiễu xạ ToFD sử dụng thời gian mà một xung siêu âm, được phản xạ tại vùng đỉnh vết nứt, cần để quay trở lại đầu thu. Thời gian bay này thay đổi tùy theo vị trí và kích thước của khuyết tật.
Ý nghĩa luyện kim & rủi ro khi hàn
Phương pháp này cho phép tạo hình học bề mặt chính xác của các đỉnh vết nứt, điều này quyết định cho việc đảm bảo chất lượng các mẫu mối hàn. Phân tích sai có thể dẫn đến định vị khuyết tật không chính xác và do đó dẫn đến việc không tuân thủ các tiêu chuẩn an toàn.
Thực hành xưởng & hướng dẫn thao tác
Để thực hiện thành công phân tích mẫu nhiễu xạ ToFD, cần chú ý các bước sau:
1. Hiệu chuẩn thiết bị siêu âm: Đảm bảo thiết bị được hiệu chuẩn chính xác để đo thời gian bay chính xác.
2. Thu nhận tín hiệu nhiễu xạ thời gian bay: Gửi xung siêu âm qua mối hàn và thu các tín hiệu tương ứng tại đầu thu.
3. Phân tích tín hiệu: Sử dụng phần mềm chuyên dụng để phân tích thời gian bay và xác định vị trí đỉnh vết nứt.
4. Ghi chép kết quả: Ghi lại tất cả các giá trị đo và phân tích một cách chi tiết để đảm bảo tài liệu có thể truy xuất được.